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SMU汰旧换新优惠方案

全套双通道系统包含:
机箱:PXIe-1071
控制器:PXIe-8820
模块:PXIe-4137两组或PXIe-4139两组
应用程序:可直接进行测试控制
超值优惠价格,轻松拥有最新SMU系统

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NI SMU - 电性能测试的最佳选择

源测量单元(SMU)可同时控制与量测高精度电压、电流,专为消费性电子产品、IC设计与验证、生医、学术研究等实验室提供电性能测试。

美国国家仪器(National Instruments, NI)为自动化测试的领导者,透过PXI平台、源测量单元与其他模块化仪器,为用户提供定制化、弹性扩充与高精度测试解决方案。

1. 满足多种仪器功能,提供高精度测试需求
2. 系统级SMU – 多信道同步、易扩充
3. 独特负载响应控制 – 优化DUT测试
4. 更多 SMU 技术信息

      

 

满足多种仪器功能,提供高精度测试需求

分辨率:100 fA 或 100 nV
取样率:1.8 MS/s
性能:整合高精度供电电源、数字万用表,单一通道同时控制与量测电压、电流
优势:提高量测精度,降低硬件成本。不需复杂接线,透过高速采样率与可程控电源供电,提供相当于示波器、信号发生器、脉冲发生器与电子负载等功能

              

        
     
 Pulse or D
 Pulse only, maximum pulse on time 1ms, maximum duty cycle 5%
 Pulse only, maximum on time 400 us, maximum duty cycle 2%

 

系统级SMU – 多信道同步、易扩充

传统SMU测试系统,需透过仪器控制才能由PC控制,同步效果不佳、不俱可扩展性和灵活性。NI SMU 使用 PXI 平台,利用 PXI 高速传输低延迟的特性,提升10 倍传输速率。透过PXI 背板与模块达到通道间、机箱间的同步,系统规划扩充方便。

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独特负载响应控制 – 优化DUT测试

NI SMU提供10 μs反应速度,搭配NI SourceAdpat Technology专利技术,可针对特定负载提供定制化调制,优化DUT测试。

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