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NI物联网测试解决方案

物联网这一概念大爆发,现已成为当下最热门的技术热点之一。物联网的技术的愿景是希望数量巨大的智能终端都实现连接,包括传感器、移动终端、可穿戴设备、监控系统等,这些应用场景对于未来都有着深远的意义。理解物联网的技术需要理解与以往技术要求的不同点:如更低的功耗,更稳定连接,更多的数据量等。这些设计要求对应于测试来说也会有显著的变化,因此面向物联网的测试需要:

  • 更低的测试成本,以满足更低物联网设备成本
  • 灵活的测试架构满足不断变化的标准
  • 兼容最新技术趋势

National Instruments作为领导的测试测量仪器厂商,将助力物联网芯片及设备厂商,为其提供高效灵活的测试解决方案面对物联网产品中的难题。查看伟创力可穿戴测试案例了解NI如何助力物联网测试!

物联网无线测试

在​物​联​网​​爆炸​式​增长​下,​无线​已​成为​连接​设备​的​标准​方式。NI​提供​了​快速、​​高​成本​效益​​的​物联网无线​测试​方案,​帮助​您​设计​创新​的​高​品质​产品。NI​物联网解决​方案​可​简化​并行​无线测试,​缩短​测试​时间​,降低​测试​成本,​适用​于​从芯片测试到​设备生产​等​不同​应用,​涵​盖​从低功耗蓝牙BLE、802.11ax、​NFC​和​无线​充电​等​不同​技术。

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电源及功耗测试

物联网设备小体积、长时间运行的需要有极低的功耗,电源及功耗测试,电池分析,电源管理芯片设计等在物联网时代越发重要。NI提供高精度的SMU等电性能测试利器,为物联网设备测试提供更高效、灵活的解决方案。

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NI物联网测试方案优势

更低测试成本

详细了解如何通过NI平台降低成本和最大限度提高产品开发和制造组织的效率

总体拥有成本

 

更高测试速度

详细了解Qualcomm如何通过NI平台降低成本和最大限度提高产品开发和制造组织的效率

成功案例详情

 

更灵活的测试

详细了解如何通过NI PXI平台降低成本,并最大限度提高产品开发和制造组织的效率

PXI模块化仪器优势

 

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