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高速数字信号抖动分析系统演示

 

  • 技术要点 

NI数字后端的同步内存核心(SMC)技术与泰克公司模拟前端准确测量技术完美的结合,将PXI平台对高速数字信号测量与分析提升到新的高度。PXIe-5186拥有高达12.5GS/s采样率以及5GHz带宽。结合使用NI LabVIEW 抖动分析工具包,可以方便快捷的实现对高速信号的抖动,眼图、噪声等信号完整性分析。 

 

  • 系统功能简述          

本演示在NI PXIe平台下使用PXIe-5186对PXIe-6556产生的高速数字信号进行了抖动分析并且使用眼图进行观察,充分发挥了在NI统一的软硬件平台下对高速数字信号完整性测试的强大优势。该演示各功能模块如下:

  1. 高速数字I/O PXIe- 6556产生100MHz的数字脉冲信号。
  2. 高速数字化仪PXIe-5186准确无误的采集信号,并在LabVIEW环境中利用NI提供的抖动分析工具包,对数字脉冲完成随机抖动、周期抖动、眼图等信号的时域分析。

 

  • 应用领域    

在物理研究,半导体,航天航空和国防,消费类电子,射频和无线测试等领域可以进行高速数字信号的采集和抖动分析。

  • 使用NI 的产品

软件

NI LabVIEW 2012
NI LabVIEW Jitter Analysis Toolkit

 

硬件

PXIe-1062 机箱
PXIe-8106 控制器
PXIe-6556 高速数字I/O
PXIe-5186超高速数字化仪
NI SMB-2163 高速信号转接盒

 

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